樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：一般氣候性測(cè)試 5 臺(tái)； 惡劣氣候性測(cè)試 3 臺(tái)。共8臺(tái)。
測(cè)試周期：7 天。
測(cè)試目的： 模擬實(shí)際工作環(huán)境對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行性能測(cè)試。
A：一般氣候性測(cè)試：    
1.1.高溫/低溫參數(shù)測(cè)試（Parametric Test）
測(cè)試環(huán)境：-25° C /+55°C；持續(xù)2小時(shí)；手機(jī)電池充滿電，手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)。
測(cè)試目的：高溫/低溫應(yīng)用性性能測(cè)試
試驗(yàn)方法：對(duì)于翻蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開(kāi)翻蓋；對(duì)于滑蓋手機(jī)，應(yīng)將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)電性能參數(shù)指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。
1.2.高溫高濕參數(shù)測(cè)試（Parametric Test）
測(cè)試環(huán)境：+45° C，95%RH；持續(xù)48小時(shí)；手機(jī)電池充滿電，手機(jī)處于開(kāi)機(jī)狀態(tài)。
測(cè)試目的：高溫高濕應(yīng)用性性能測(cè)試
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無(wú)變形。     
1.3.高溫/低溫功能測(cè)試（Functional Test）
測(cè)試環(huán)境：-40° C /+70°C，2小時(shí)，恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行結(jié)構(gòu)，功能和電性能檢查。
測(cè)試目的：高溫/低溫應(yīng)用性功能測(cè)試
B：惡劣氣候性測(cè)試    
1.4.灰塵測(cè)試（Dust Test）
測(cè)試環(huán)境：室溫，灰塵大小300目，持續(xù)3個(gè)小時(shí)。詳細(xì)測(cè)試方法見(jiàn)公司測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)細(xì)則。
測(cè)試目的：測(cè)試樣機(jī)結(jié)構(gòu)密閉性
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：手機(jī)各項(xiàng)功能正常，所有活動(dòng)元器件運(yùn)轉(zhuǎn)自如，顯示區(qū)域沒(méi)有明顯灰塵。
1.5.鹽霧測(cè)試（Salt fog Test）
測(cè)試環(huán)境：35°C; 5%的氯化鈉溶液；關(guān)機(jī)；合上翻蓋；樣機(jī)用繩子懸掛起來(lái)；48小時(shí)。
測(cè)試目的：測(cè)試樣機(jī)抗鹽霧腐蝕能力
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：常溫干燥后，手機(jī)各項(xiàng)功能正常，外殼表面及裝飾件無(wú)明顯腐蝕等異常現(xiàn)象。